V9000是昂科推出的高性能大容量存储芯片测试分选机，本设备主要用于对UFS、SSD、eMMC、eMCP、LPDDR，UFS、UMCP等产品常温、高温环境下的SLT自动测试分选。
● IC自动上料，Tray自动分配，IC自动分BIN
● 集不同IC、Tray、BIB板的测试解决方案于一体
● CCD视觉检测，确保芯片的高精度取放作业
● 设备配备机械手臂，可同时满足open top和旋钮式老化板
● 效率: UPH>=1800 768个座子(25min长测时、UPH:1800)
● 精准视觉(+0.02mm)
● 吸嘴具有旋转纠偏功能
特色功能
超大容量老化测试系统
● 是市面常见设备的3倍以上的容量
● 预留天车、AGV接口
独立温控、压力控制系统
● 每颗芯片独立的温控检测系统
● 温控、压力控制更精准
CCD相机智能定位和调整
● 四组工业相机，精准搬送
● Auto Teach自动调整
ESD保护系统
● ESD处理系统
● 全内置进出料系统
高精度丝杆和导轨
● 精度高，稳定性好
● 易于维护
三重防叠料检测系统
● CCD视觉检测
● 吸嘴实时叠料检测(专利技术)
● UID比较
搬送托盘技术
● 日本技术、20年时间考验，高稳定性搬送
冀公网安备13010402003046号